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UV-F3疑难现场足迹扫描系统

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UV_F3B疑难现场足迹扫描系统

简介:

UV_F系列疑难现场足迹扫描系统是北京和众视野科技有限公司开发的一套专用于现场平整表面的足迹图像采集系统。UV_F3B总结现实办案现场中集中出现的多种疑难足迹情况——诸如被背景图案淹没的足迹,高反射表面的足迹,以及很多看得见却拍不到(拍不好)的足迹等,创新设计了“倾斜成像加激光矫正(IILC)”的独特扫描技术,使得大部分常见疑难足迹都能得以清晰呈现。

主要特点:

   l疑难足迹的提取:高对比度、复杂花纹图案表面的足迹;高反射材质表面的足迹;只能倾斜观察可见的足迹。

 l无损:光学扫描成像方式,不接触痕迹,不破坏现场。

 l高信噪比:大幅度抑制客体背景信息,提高足迹图像的信噪比。

 l高灵敏度:静电膜吸附后的地面残留痕迹仍可扫描提取。

 l均匀性:扫描成像,避免了常规拍照的图片因照明光源的问题而产生的照度不均匀现象。

 l无变形:光学扫描成像方式,避免手工拍摄时因镜头难以垂直正对痕迹表面而产生的倾斜畸变,确保图像的每一处都反映痕迹的真实形状。

 l自带比例尺:解决遗忘放置比例尺或放置比例尺过短的问题,确保得到原始尺寸。

 l多采集模式:根据灰尘足迹、水渍足迹、血足迹等不同情况的需求,内置了多种采集模式,用户只需根据现场情况作出简单选择。

 l自动化:不用培训,无需拍摄经验,只需软件调光配光,轻轻一按,即可采集到有鉴定价值的痕迹图像。

 l全天候:内置式照明,无论室内、室外、白天、夜间都可工作。

 l高稳定性:全封闭,无外界光干扰;无抖动,不受人为因素干扰,精确获取每一处痕迹。

 l降低劳动强度:无需技术员低头弯腰,挥汗如雨,四处配光,真正解放技术员的双手,节省时间去完成现场的其他任务。

 l集成式一体机身,专为狭长的全尺寸足迹设计,高强度,耐冲击。

   l内置35000mAh可充电移动电源供电

 l条形红外光源

 l图像背景信息抑制率达到40%以上(对典型客体,如复杂花纹的大理石地砖、地板革、复合木地板、防滑瓷砖等,经典图像熵算法)

 l精密逐行扫描成像方式

 l扫描精度2微米每秒

 

主要功能:

 l全幅面快速扫描预览,用来判断图片是否适用。

 l全幅面精细扫描获取高对比度痕迹图像。

 l多采集模式选择,应对大多数现场情况。

 l自动在扫描图上添加外围比例尺。

 l提供自由拉伸和拖放的浮动测量尺。

 l可在扫描图片上添加文字注释。

 l可在扫描图片上添加和编辑指北针。

 

系统配置(UV_F3B):

 lUV_F3B足迹扫描系统主机一台(伸缩型)。

 l电源线一根。

 l足迹搜索装置一套。

 l足迹专用测量系统软件一套

 l便携式安全箱一个。

 

历史:

UV_F1已于2013年7月1日停产

UV_F2A已于2014年3月1日停产

UV_F2B已于2016年1月1日停产

 

 

图1:检材外观图

图2:掠入射配光,相机拍摄

图3:UV_F扫描图

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